如之前【飛納電鏡：從飛利浦到賽默飛，是最“老"的電鏡，也是最“新"的電鏡（上篇）】的介紹，飛納電鏡繼承荷蘭飛利浦和 FEI 三倉分離和逐級(jí)抽真空設(shè)計(jì)，可以實(shí)現(xiàn) 15 秒抽真空 30 秒成像，這是目前業(yè)界高效率的臺(tái)式掃描電鏡，可謂是掃描電鏡中的“閃電俠"。

不同類型掃描電鏡操作所用時(shí)長(zhǎng)對(duì)比圖

通過不同電鏡操作用時(shí)對(duì)比圖可知，一方面是抽真空耗時(shí)，傳統(tǒng)電鏡因?yàn)橥▊}的設(shè)計(jì)，載樣抽真空過程需要很長(zhǎng)時(shí)間，至少 3 分鐘的樣子。隨著設(shè)備真正服役，真空系統(tǒng)復(fù)雜加之維護(hù)不到位，這個(gè)等待時(shí)間只會(huì)越來越久。另一方面 SEM 成像耗時(shí)，傳統(tǒng)電鏡操作界面復(fù)雜不說，自動(dòng)化智能功能嚴(yán)重不足，很依賴于操作人員的熟練程度，一個(gè)小時(shí)往往能拍好 3 個(gè)樣品都算快的。

就傳統(tǒng)電鏡抽真空耗時(shí)久這一痛點(diǎn)，飛納電鏡是如何實(shí)現(xiàn)抽真空和成像如此之快呢？

PART1. 三倉分離真空設(shè)計(jì)

飛納電鏡從一開始就拋棄傳統(tǒng)的通倉設(shè)計(jì)，別出心裁把燈絲倉，光路倉和樣品倉“隔離"設(shè)計(jì)，燈絲倉和光路倉通過壓差光闌隔離，光路倉和樣品倉通過“真空鎖"設(shè)計(jì)隔離，渦輪分子泵分別對(duì)三倉室梯度抽真空，這樣切換樣品只破壞樣品倉真空，整個(gè)換樣過程幾乎不會(huì)引起燈絲倉的真空變化，從而保證燈絲倉真空環(huán)境一直穩(wěn)定在 10-5Pa，這也是保證晶體燈絲長(zhǎng)壽命的前提條件。

PART2. 樣品倉設(shè)計(jì)

傳統(tǒng)電鏡樣品倉大開門或者抽屜式設(shè)計(jì)，不但會(huì)造成抽真空緩慢，而且樣品倉內(nèi)各種探測(cè)器都暴露在空氣中，樣品高度要調(diào)整，這些都需要警惕否則都會(huì)帶來巨大損失。而飛納電鏡真空鎖不單鎖住光路倉，還包括各種探測(cè)器，進(jìn)樣之前樣品高度做了限高防呆設(shè)計(jì)，不存在任何誤操作得風(fēng)險(xiǎn)，大家可以安心使用。

PART3. 自動(dòng)進(jìn)樣設(shè)計(jì)

飛納電鏡繼承荷蘭飛利浦和 FEI 進(jìn)樣逐級(jí)抽真空設(shè)計(jì)，一鍵轉(zhuǎn)移到 SEM，邊進(jìn)樣邊抽真空。在樣品倉到達(dá)預(yù)定真空度前，光路倉可實(shí)現(xiàn)真空保持，而后自動(dòng)加高壓，自動(dòng)調(diào)焦和自動(dòng)調(diào)節(jié)亮度對(duì)比度（B/C）成像，整個(gè)過程一氣呵誠(chéng)，無需人工干預(yù)，從進(jìn)樣到清晰成像，1min 之內(nèi)就可以自動(dòng)完成。

飛納電鏡的真空系統(tǒng)設(shè)計(jì)、操作系統(tǒng)和硬件整合都是目前主流市場(chǎng)上做得非常好的，正是由于飛納電鏡諸多匠心設(shè)計(jì)，才成為目前市面上高效的掃描電鏡，也收獲了各種獎(jiǎng)項(xiàng)！

2015  今日顯微鏡學(xué)創(chuàng)新獎(jiǎng)

飛納熒光掃描電鏡一體機(jī) Delphi 被授予 2015 今日顯微學(xué)創(chuàng)新獎(jiǎng)，表彰其整合光電關(guān)聯(lián)技術(shù)的創(chuàng)新。

2009 德國(guó)設(shè)計(jì)大獎(jiǎng)

由德國(guó)設(shè)計(jì)學(xué)會(huì)頒發(fā)的德國(guó)設(shè)計(jì)大獎(jiǎng)是世界設(shè)計(jì)界的最高獎(jiǎng)項(xiàng)之一，其以提名標(biāo)準(zhǔn)的嚴(yán)格而聞名，被譽(yù)為“桂冠中的桂冠"。

2008 GIO 工業(yè)設(shè)計(jì)獎(jiǎng)

GIO 工業(yè)設(shè)計(jì)獎(jiǎng)是荷蘭設(shè)計(jì)類獎(jiǎng)項(xiàng)，用以表彰專業(yè)的設(shè)計(jì)技術(shù)。Phenom 飛納在 2008 年獲此殊榮，證明了其設(shè)計(jì)水平。

2008 創(chuàng)新技術(shù)獎(jiǎng)

荷蘭 Het Instrument 展覽會(huì)期間，Phenom 飛納榮獲實(shí)驗(yàn)室器材領(lǐng)域中的創(chuàng)新技術(shù)獎(jiǎng)，再次證明了其設(shè)計(jì)理念。

2008 PTB-年度最佳產(chǎn)品

美國(guó) Phonics Tech Briefs (PTB) 雜志授予 Phenom 飛納年度最佳產(chǎn)品。

2007 美國(guó)商務(wù)部杰出創(chuàng)新獎(jiǎng) 

美國(guó)商務(wù)部技術(shù)管理局決定授予 Phenom 飛納杰出創(chuàng)新獎(jiǎng)，以表彰其“帶來的全新視野，促進(jìn)了科學(xué)、技術(shù)、工程等領(lǐng)域中的教學(xué)與研究。

2007 紅點(diǎn)設(shè)計(jì)獎(jiǎng)

紅點(diǎn)設(shè)計(jì)獎(jiǎng)?chuàng)碛?50 多年的悠久歷史，被譽(yù)為設(shè)計(jì)界中的奧斯卡，最大最尊貴的設(shè)計(jì)獎(jiǎng)項(xiàng)。

 2006 荷蘭機(jī)電學(xué)大獎(jiǎng)

因其“在機(jī)械電子領(lǐng)域中，合作研發(fā)與制造能力"榮獲荷蘭機(jī)電學(xué)大獎(jiǎng)。

如果你還在為：

切換樣品需要頻繁抽真空而苦惱

如果你還在為：

傻傻做標(biāo)記尋找樣品定位而苦惱

如果你還在為：

自動(dòng)調(diào)焦總是不盡如人意而苦惱

不如來試試飛納電鏡

一鍵就能給你想要的

整個(gè)測(cè)樣過程，真的就如沖泡一杯咖啡

一樣簡(jiǎn)單，一樣絲滑